Agilent Technologies U7242A Manuel d'utilisateur Page 36

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USB 3.1 计和测试中的主要挑战
Transmitter SSC quality
SSC ECNs
Interference issues
Loopback issues
Dut needs custom
sequence
DUT drops out easily
Calibration issues
Inconsistent
Poor Sj/Rj mod
Automation of Cal
RX and TX Equalizer Tuning
Jitter tolerance failures
Compliant SJ
Poor/wrong SJ
Compliant SSC Profile
Intentional SSC Stress
Non-deterministic noisy SSC
© Agilent Technologies, 2014
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